双折射分析仪PA-110/WPA-100
| 特点 | |||||||||||
| 仅需数秒，快速完成全面测量。 | |||||||||||
| 测量范围（~数1000nm）#WPA | |||||||||||
| 历来测量双折射/相位差的方式，皆是旋转偏光片，透过光画量变化来进行测量。 | |||||||||||
| PA/WPA使用独特的光感应技术。此技术是在CCD前贴上超高积极技术的偏光片。以相邻4画像素为一单位， | |||||||||||
| 比较每一单位的辉度后进行计算，不需要旋转偏光片，即可在一瞬间取得数10万点的偏光信息。 | |||||||||||
| 测量范围 | |||||||||||
| 1.树脂成型 | |||||||||||
| 会根据成形条件而有微妙的变化, | |||||||||||
| 可當做製程管理上的有效指標。另外，也可藉由這台設備，量化相位差 | |||||||||||
| 檢測出脫模等對產品的影響。 | |||||||||||
| 2.玻璃材料 | |||||||||||
| 量化測出強化玻璃的應力分佈或因雷射加工造成的玻璃內部翹曲。 | |||||||||||
| 3.镜片 | |||||||||||
| 進膠口的應力翹曲若擴及到鏡片有效鏡範圍，會降低 鏡片解析度。 | |||||||||||
| 使用本設備可量化測量並迅速找出低翹 曲的成型條件。 | |||||||||||
| 4.薄膜 | |||||||||||
| 測量方法簡單，輕鬆取得透明薄膜的相位差量化分佈資料。 | |||||||||||
| 調整顯示範圍，可強調微小的Mura數值，方便判讀。 | |||||||||||
| 5.有机材料 | |||||||||||
| 以相位差分布可有效評估球晶等有機分子的結晶方向。 | |||||||||||
| 6.无机材料 | |||||||||||
| 顯微鏡視野，方便且快速量測出結晶方向。金屬等 | |||||||||||
| 不透明樣品，則可進行其反射評估(WPA-micro, PI-micro | |||||||||||
| 7.透明管 | |||||||||||
| 工業/醫療用途的樹脂製或玻璃製透明管，也可以運用該設備來評估其翹曲。 | |||||||||||
